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環(huán)境試驗箱符合標準
日期：2025-12-05 09:19
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摘要：
環(huán)境試驗箱符合標準
性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 （IEC68-2-1）
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 （IEC68-2-2）
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93（IEC68-2-30）
GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗方法
GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法
GJB150.9-1986《**設備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》
GJB4.5-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》
GJB4.6-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》
GJB367.2-1987《**通信設備通用技術條件環(huán)境試驗方法》411 濕熱試驗
GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗
GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》
GB/T5170.5-96《濕熱試驗設備》
GB10592-93《高、低溫試驗箱技術條件》
GB10586-93《濕熱試驗箱技術條件》
性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 （IEC68-2-1）
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 （IEC68-2-2）
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93（IEC68-2-30）
GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗方法
GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法
GJB150.9-1986《**設備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》
GJB4.5-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》
GJB4.6-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》
GJB367.2-1987《**通信設備通用技術條件環(huán)境試驗方法》411 濕熱試驗
GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗
GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》
GB/T5170.5-96《濕熱試驗設備》
GB10592-93《高、低溫試驗箱技術條件》
GB10586-93《濕熱試驗箱技術條件》
